完成SRAM晶元的測試，需要設計測試電路板。測試電路板主要提供測試介面和電源。晶元的控制信號和數據信號由紅色颶風II-Xilinx FPGA 開發板提供，使用ISE13.2 軟體建立測試工程，編寫Verilog 測試程式（主要包括按照時序提供分頻後的測試時鐘、數據信號和控制信號），通過JTAG 下載 ...
完成SRAM晶元的測試，需要設計測試電路板。測試電路板主要提供測試介面和電源。晶元的控制信號和數據信號由紅色颶風II-Xilinx FPGA 開發板提供，使用ISE13.2 軟體建立測試工程，編寫Verilog 測試程式（主要包括按照時序提供分頻後的測試時鐘、數據信號和控制信號），通過JTAG 下載到FPGA 的PROM 中，重新上電進行測試，通過RIGOL DS1102CA 雙通道示波器捕捉信號。
將示波器的通道1連接到寫使能信號，通道2連接到數據端D7。如圖1 所示，上方的波形為通道1接收的數據，下而的波形為通道2接收的數據。設計輸入向量測試，當地址為OOO時，將片選端CS置為低電平，圖1 中，A區WT=*0”，RD=“1“，RD= “0”，讀出寫入數據 為“0”; B區WT=“1”，數據為“0”; C 區WT=“0”，RD=“1”，寫入數據為“1”D 區WT-“1”，RD-“1”，為了更好地觀察讀出“1”時埠的電平變化，該段不進行讀寫，在輸出埠上加弱的低電平信號; E區WT=“1”，RD=“0”，讀出數據為“1”，可明顯地看到讀出數據“1”的過程。從圖中可以看到數據“0”和“1”被成功地寫入和讀出。
為驗證實際的晶元是否可以達到設計指標，參考模擬方法，輸入測試向量，以D7為例，寫入10100011後讀出SRAM 中的數據，波形如圖2 所示。遍歷OOO到111所有地址，寫入並讀出數據，驗證每個數據端是否能夠正常工作，結果顯示每個數據埠功能正確。
存取時間也是SRAM的一個重要參數，它可以表示存儲器的工作速度。測量得到，存取時間=299.4ns-293.2測量存取時間時，不同的數據埠會有ns=6.2ns。較小差別，這與實際晶元製造和不可避免的測量誤差均有關。
測試可知：當電源電壓為3.3MHZ。工作時，測得電作正常，工作頻率可達20源上的最大電流約為1.8545由此可得功耗絲mA，為6.11985mW。
